品牌 | 同惠电子 | 产地类别 | 国产 |
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应用领域 | 能源,电子,航天,汽车,电气 |
TH2840系列LCR数字电桥设计频率从20Hz-500kHz/2MHz,
弥补了500kHz频率范围内缺乏高性能电桥的缺点。
得益于采用了10.1寸、分辨率达1280*800的电容式触摸屏,
TH2840系列LCR数字电桥采用了四参数显示、所有设置、监视、
分选参数、状态等可以在同一屏显示,避免了频繁切换的繁琐操
作。
A.10.1寸大屏,四种测量参数,让细节一览无遗
10.1寸触摸屏、1280*800分辨率,Linux系统、中英文操作界面,支持键盘、鼠标、LAN接口,带来的是无以伦比的操作便捷
性。
大屏幕带来更多的好处是,可以把4个测试参数及分选参数、分选结果、功能选择等参数放置在同一屏幕,而且看起来绝不拥
挤和杂乱,同时可以显示四种测量参数,四种测量参数任意可调。
和早期LCR对比,操作便捷性、显示完整性一目了然。
B.高达1800次/秒测量速度
由于创新性的采用了双CPU设计,一个CPU负责测试处理数据,另一个CPU负责显示数据,因此TH2840测试速度高达1800次/秒。
高速的测试速度在自动化产线可以极大的提高效率。
对于部分需要实时采样体现被测件瞬态变化特征,或者测量变化过程相应时间,TH2840系列0.56ms的测量速度可解决。
如下列应用,在两个极板之间加载偏压,两端电容随着偏置电压变化而变化.
记录未加偏置时电容C0
偏置上升过程中的电容值
偏压达到20V并且稳定之后的电容C1
计算从C0-C1之间的稳定时间Th。
常规的LCR数字电桥,由于测试速度限制,采样率无法达到几
乎实时采集,用TH2840系列双CPU,可实时观察变化过程并计算
出稳定时间。
TH2840X上位机 示波器实时抓获波形
电容测试 CH1: AD脉冲(黄色)
测试频率:1MHz CH2: DC BIAS 打开(绿色)
量程:100Ω CH4: DC BIAS 上升(红色)
上升瞬间波形 全部波形
C.硬件配置
除了双CPU设计,TH2840系列也增强了其他硬件配置参数:
1. AC测试电平提升至20Vrms/100mA,同类产品仅TH2838H可达到,在测试C-V曲线时范围更广
2. DC偏置为±40V/±100mA,为同类产品最高配置
3. 标配独立2A直流偏置电流源,为2A电流以内电感测试带来福音,支持外界TH1778A系列扩展至120A。
4. DCR测试电平提升至20V,测试mH级及以上电感更快速稳定精确。
D.改进的分选设置
针对以往LCR分选设置及参考设
置来回切换等过于复杂的操作,做出
了如下改进以便于客户使用及设置:
1. 合并标称值和参考值的设置
2. 由于直接采用了4参数测量及
分选,因此取消附属档、副参
数档。
E.增强的列表扫描功能F.强大的分析图形界面
可设置4个测量参数,4个测量参数有独立开关,列表扫 4个扫描轨迹,1-4个测试参数任意选择,扫描曲线可以
描每个点的频率,电平,偏置,功能,延时都可以独立设置,满足了 一分屏、二分屏、四分屏。
大多数客户的需求。
G.10档分选及可编程HANDLER接口
仪器提供了10档分选,为客户产品质量分级提供了可 在与自动化设备连接时,怎么配置HANDLER接口
能,分选结果直接输出至HANDLER接口。 输出,一直是自动化客户的难题,TH2840系列LCR将
HANDLER接口脚位、输入输出方式、对应信号、应答方式
等可视化,让自动化连接更简单。
H.智能固件升级方式
仪器本身功能完善、BUG解决、功能升级等,都可以通过升级固件(Firmware)来进行更新,而无需返厂进行。
TH2840系列LCR数字电桥固件升级非常智能,可以通过系统设置界面或者文件管理界面进行,智能搜索仪器内存、外接优盘
甚至是局域网内升级包,并自动进行升级。
I.选配附件
应用
■无源元件:
电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和
网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。
■半导体元件:
LED驱动集成电路寄生参数测试分析;变容二极管的C-VDC特
性;晶体管或集成电路的寄生参数分析
■其它元件:
印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等阻抗评估
■介质材料:
塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
■磁性材料:
铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
■半导体材料:
半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性液晶材料:液晶单元的
介电常数、弹性常数等C-V特性
■各种传感器:
电子皮肤、振镜图像滤光阵列传感器
技术参数
产品型号 |
TH2840AX |
TH2840BX |
TH2840NX |
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显示 |
显示器 |
10.1英寸(对角线)电容触摸屏 |
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比例 |
16:9 |
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分辨率 |
1280×RGB×800 |
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测试频率 |
范围 |
20Hz-500kHz |
20Hz-2MHz |
20Hz-500kHz |
精度 |
0.01% |
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分辨率 |
0.1mHz(20.0000Hz-99.9999Hz) |
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1mHz(100.000Hz-999.999Hz) |
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10mHz(1.00000kHz-9.99999kHz) |
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100mHz(10.0000kHz-99.9999kHz) |
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1Hz(100.000kHz-999.999kHz ) |
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10Hz(1.00000MHz-2.00000MHz) |
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AC测试信号模式 |
额定值(ALCOFF) |
设定电压为测试端开路时Hcur电压 |
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设定电流为测试端短路时从Hcur流出电流 |
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恒定值 (ALCON) |
保持DUT上电压与设定值相同 |
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保持DUT上电流与设定值相同 |
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测试电平 |
电压范围 |
5mVrms-20Vrms |
F≤1MHz5mVrms-20Vrms F>1MHz5mVrms-15Vrms |
5mVrms-20Vrms |
准确度 |
±(10%×设定值+2mV)(AC≤2Vrms) ±(10%×设定值+5mV)(AC>2Vrms) |
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分辨率 |
1mVrms(5mVrms-0.2Vrms) |
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1mVrms(0.2Vrms-0.5Vrms) |
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1mVrms(0.5Vrms-1Vrms) |
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10mVrms(1Vrms-2Vrms) |
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10mVrms(2Vrms-5Vrms) |
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10mVrms(5Vrms-10Vrms) |
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10mVrms(10Vrms-20Vrms) |
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电流范围 |
50μArms-100mArms |
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分辨率(100Ω 内阻) |
10μArms(50μArms-2mArms) |
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10μArms(2mArms-5mArms) |
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10μArms(5mArms-10mArms) |
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100μArms (10mArms-20mArms) |
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100μArms (20mArms-50mArms) |
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100μArms (50mArms-100mArms) |
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RDC测试 |
电压范围 |
100mV-20V |
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分辨率 |
1mV(0V-1V) |
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10mV(1V-20V) |
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电流范围 |
0mA-100mA |
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分辨率 |
10μA(0mA-10mA) |
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100μA(10mA-100mA) |
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DC偏置 |
电压范围 |
0V-±40V |
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准确度 |
AC≤2V1%×设定电压+5mV |
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AC>2V2%×设定电压+8mV |
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分辨率 |
1mV(0V - ±1V) |
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10mV(±1V - ±40V) |
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电流范围 |
0mA-±100mA |
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分辨率 |
10μA(0mA-10mA) |
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100μA(10mA-100mA) |
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内置电流源 |
电流范围 |
0mA-2A |
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准确度 |
I>5mA±(2%×设定值+2mA) |
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分辨率 |
1mA |
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输出阻抗 |
30Ω,±4 @1kHz |
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100Ω,±2 @1kHz |
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LCR模块测量参数 |
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测量参数 |
方式 |
四参数任意选择 |
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AC |
Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、VAC、IAC |
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DC |
RDC、VDC、IDC |
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测试端配置 |
四端对 |
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测试电缆长度 |
0m、1m、2m、4m |
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数学运算 |
与标称值的绝对偏差Δ,与标称值的百分比偏差Δ% |
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等效方式 |
串联、并联 |
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校准功能 |
开路OPEN、短路SHORT、负载LOAD |
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测量平均 |
1-255次 |
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量程选择 |
自动AUTO、手动HOLD |
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量程配置 |
LCR |
100mΩ、1Ω、10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kΩ、20kΩ、50kΩ、100kΩ |
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RDC |
1Ω、10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kΩ、20kΩ、50kΩ、100kΩ |
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测量时间(ms) |
快速+:0.56ms 快速:3.3ms 中速:90ms 慢速:220ms |
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最高准确度 |
0.05%(具体参考说明书) |
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测量显示范围 |
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Cs、Cp |
0.00001pF-9.99999F |
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Ls、Lp |
0.00001μH-99.9999kH |
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D |
0.00001-9.99999 |
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Q |
0.00001-99999.9 |
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R、Rs、Rp、X、Z、RDC |
0.001mΩ-99.9999MΩ |
|||
G、B、Y |
0.00001μs-99.9999S |
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VDC |
±0V-±999.999V |
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IDC |
±0A-±999.999A |
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θr |
-3.14159-3.14159 |
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θd |
-179.999°-179.999° |
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Δ% |
±(0.000%-999.9%) |
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TurnsRatio |
1:0.001—1000:1 |
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LCR模块其他测试参数请参考TH2840系列LCR数字电桥技术参数部分 |
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变压器测量 |
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测试参数 |
Cs/Cp:电容、Ls/Lp:电感、DCR:直流电阻、Zx:阻抗、Rs/Rp:电阻、D:损耗、Q:品质因数、dZ:相位角、Lk:漏感、Phase:相位)、Balance:平衡 Turns-Ratio(圈数比):Ns:Np=U2/U1,Np:Ns=U1/U2 Turns(圈数):Ns=Np×U2/U1,Np=Ns×U1/U2 |
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测试模式 |
连续 |
在单次触发方式下,手动触发一次,测完所设置的变压器所有测试参数一次 |
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单步 |
在单次触发方式下,手动触发一次,测量变压器的一个测量参数,再触发一次,再测下一个参数 |
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测量时间(ms) |
快速 |
快速:3.3ms, 快速+:1ms(>10kHz) |
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中速 |
中速:90ms |
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慢速 |
慢速:220ms |
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偏置源 |
参考偏置部分参数 |
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平均次数 |
每个测试参数可以设置不同的平均次数,平均次数为0-255 |
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延时 |
每个测试参数可以设置不同的延时时间, |
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变压器扫描 |
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内置扫描路数(PIN) |
6×(24×2)=288PIN(AX,BX无内置扫描板) |
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变压器HANDLE接口 |
引脚定义 |
NS1-NS30、GOOD、NG、TEST、触发、复位(与TH2829X系列一致)(NX)(AX,BX NSI-NS9) |
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输出特点 |
光耦隔离,ULN2003驱动增强,集电极输出 |
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模式 |
直读、百分比 |
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量程 |
自动、保持 |
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偏置源 |
参考偏置部分参数 |
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外接扫描盒 |
兼容TH1901系列、TH1831扫描盒 |
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绕组数 |
初级 |
60 |
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次级 |
9 |
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平均次数 |
每个测试参数可以设置不同的平均次数,平均次数为0-255 |
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延时 |
每个测试参数可以设置不同的延时时间 |
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测量时间(ms) |
快速 |
快速:3.3ms(≥1kHz), 快速+:1ms(≥10kHz) (不含继电器动作时间) |
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中速 |
中速:90ms |
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慢速 |
慢速:220ms |
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测试引线接口 |
25*2pinFRC插座,引脚顺序与TH2829系列*相同(NX) |
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其他功能及参数 |
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存储调用 |
内部 |
约100M非易失存储器测试设定文件 |
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外置USB |
测试设定文件、截屏图形、记录文件 |
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键盘锁定 |
可锁定前面板按键 |
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接口 |
USB HOST |
2个USB HOST接口,可同时接鼠标、键盘,U盘同时只能使用一个 |
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USB DEVICE |
通用串行总线插座,小型B类(4个接触位置);与USBTMC-USB488和USB2.0相符合,阴接头用于连接外部控制器。 |
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LAN |
10/100BaseT以太网,8引脚,速度自适应 |
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HANDLER |
用于Bin分档信号输出 |
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外部DC BIAS 控制 |
支持TH1778A(变压器扫描不支持) |
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RS232C |
标准9针,交叉 |
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RS485 |
可以接收改制或外接RS232转RS485模块 |
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开机预热时间 |
60分钟 |
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输入电压 |
100-120VAC/198-242VAC可选择,47-63Hz |
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功耗 |
不小于130VA |
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尺寸(WxHxD)mm3 |
430mm(W)x177mm(H)x265mm(D) |
430mm(W)x177mm(H)x405mm(D) |
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重量 (kg) |
11kg |
17kg |
上一篇 :TH2840A LCR测试仪